阻抗分析儀測介電常數
時間:2020-11-09瀏覽量：0
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阻抗分析儀測介電常數
LCR表和阻抗分析儀測量介電常數和導磁率的解決方案，這方案是騰斯凱行業內的先進經驗介紹。
近年來，電子設備技術獲得了蓬勃發展，而這也使得電子元器件的材料特征成為決定電路特性的關鍵因素。例如，在制造數字(媒體) 設備中常用的高容量多層片式陶瓷電容器(MLCC) 時，必須要采用高 κ 值(介電常數) 材料。此外，在選擇材料之前還必須執行各項電氣性能驗證，例如頻率和溫度響應。
在電子設備以外的其他領域，對材料的電氣特征進行測試也變得越來越普遍，因為材料的成分和化學變量(例如固體和液體)可能會用電氣特征響應取代性能參數。
阻抗分析儀測介電常數
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